Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат

Министерство образования РФ

Северо-Кавказский ГТУ

Кафедра: геология нефти и газа

КУРСОВАЯ РАБОТА

Тема: “Микроскопичное исследование

оптических параметров кристаллов”

Выполнил: студент

.

Принял

Ставрополь 2001

ОГЛАВЛЕНИЕ

Введение…………………………………………………………………4

Глава 1. Оптическая индикатриса кристаллов разных сингоний…………………………………………………………………5

Глава 2. Устройство микроскопа и его поверки………………….15

2.1 Устройство микроскопа…………………………….………..15

2.2 Главные поверки микроскопа…………………………….18

Глава 3. Плоскополяризованный свет……………………………...23

3.1. Естественный и поляризованный свет……………………...23

3.2. Преломление лучей……………………..……………………..25

Глава 4. Устройство призмы Николя Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат и ход лучей через неё………………………………………………………………………..28

Глава 5. Исследование оптических параметров

кристаллов при одном Николе………………………………………29

5.1. Исследование формы кристаллов и спайности…………………29

5.2. Исследование цвета и плеохроизма минаралов………………...33

5.3. Определение величины показателя преломления минералов…………………………………………………………….34

5.4. Методы определения показателя

преломления минералов……………………………………………..35

Глава 6. Исследование оптических параметров кристаллов

при 2-ух Николях…………………………………………….………37

6.1.Определение силы двойного лучепреломление минералов...37

Заключение……………………………………………….…………….33

Использованная литература Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат…………………………….……………34

ВВЕДЕНИЕ

Наука о кристаллах – кристаллография изучает законы строения жестких тел, охарактеризовывает кристаллическое вещество закономерным геометрически правильным внутренним строением.

Подтверждено, что кристаллическое строение характерно подавляющему большинству минералов и горных пород, слагающих земную кору, а означает имеет главное значение в строении Земли.

В индустрии все материалы (металлы и сплавы, каменные строй материалы, цемент Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат и кирпич, и п.т.) –состоят из кристаллических зернышек минералов.

Кристаллография сделала целый ряд особых кристаллографических методик, имеющих огромное практическое значение и распространение.

Наука о кристаллах дает общее понятие о свойствах и строении твердого вещества. По этому заходит в комплекс общеобразовательных дисциплин.

Является основой для происхождения предметов минералого цикла – минералогии, петрографии Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат, геохимии, учения о месторождениях нужных ископаемых.

Многие учёные Рф занесли вклады в развитие этой науки. Такие как: М.В. Ломоносов, А. В. Гадолин, Е. С. Федоров, Ю. В. Вульф и многие другие.

Кристаллография и в текущее время представляет большой энтузиазм и повсевременно добавляется, новыми спецами.

Глава 1. Оптическая индикатриса кристаллов Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат разных сингоний

При исследовании оптических параметров кристаллов пользуются вспомогательной пространственной фигурой, построенной на показателях преломления и именуемой оптической индикатрисой. Величина каждого радиуса – вектора индикатрисы выражает показатель преломления кристалла для тех световых волн, колебания которых совершаются в направлении данного вектора.

Поместим на уровне мыслей снутри кристаллического тела светящуюся Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат точку S (рис. 1). По некому направлению SNм тут будут сразу распространяться две световые волны М1 и М2 , поляризованные во взаимно перпендикулярных плоскостях. Скорости распространения этих волн n1 и n2 различны. В связи с этим будут различны и характеристики преломления волн n1 и n2 , представляющие из себя, как понятно, оборотные величины по Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат отношению к скоростям[Д1] [Д2] .

Пусть волна М1 идет резвее (n1 >n2 ); тем ее показатель преломления (n1 ) будет меньше соответствующего показателя преломления (n2 ) для волны М2 (n1 < n2 ).

Приняв точку S за начальную, проведем через нее прямые А1 А1 и В2 В2 параллельно колебаниям волн М1 и Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат М2 (А1 А1 параллельна колебаниям волны М1 ; В2 В2 параллельна колебаниям волны М2 ). Прямые А1 А1 и В2 В2 взаимно перпендикулярны.

На прямых А1 А1 и В2 В2 по обе стороны от S отложим в одном и том же случайном масштабе величины характеристик преломления n1 и n2 (n1 откладываем по А1 А Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат1 , n2 – по В2 В2 ).

В итоге получаем четыре точки А1 , А1 , В2 , В2 .

Рассматривая волны, идущие по другим фронтам, мы будем получать новые четырехточия.

Рис. 1. Построение оптической индикатрисы

На теоретическом уровне подтверждено, что поверхность, обнимающая все обозначенные четырехточия, представляет собой или трехосный эллипсоид, или эллипсоид вращения, или шар Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат. Эта поверхность и носит заглавие оптической индикатрисы. Оптическая индикатриса дает возможность найти для волн хоть какого данного направления ориентировку колебаний и величины соответствующих характеристик преломления. Величины этих осей дают в определенном масштабе характеристики преломления. В личном случае сечение индикатрисы является окружностью. Это указывает, что световые волны, распространяющиеся Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат в данном направлении, не испытывают двупреломления.

Разглядим раздельно все три обозначенные типа оптической индикатрисы.

Высшая категория . Кристаллы кубической сингонии являются, как уже указывалось выше, оптически изотропными. Лучи тут идут с схожей скоростью и, как следует, владеют одним показателем преломления. Соответственно этому, оптическая индикатриса в кристаллах кубической сингонии – шар.

Охарактеризовать шаровую индикатрису Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат можно только с помощью одной величины – радиуса шара. Радиус шара выражает показатель преломления. Как следует, черта оптической индикатрисы кристаллов кубической сингонии заключается только в одной константе – показателе преломления n.

Средняя категория . Кристаллам средних сингоний (гексагональным, тетрагональным и тригональным) соответствует оптическая индикатриса в виде эллипсоида вращения.

Поверхность эллипсоида вращения Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат можно получить, методом вращения эллипса вокруг одной из его осей (рис. 2). При всем этом получаются два рода эллипсоидов вращения (рис. 3).

Рис. 2.Оптическая индикатриса кристалла низшей категории (трехосный эллипсоид)

Рис. 3.Оптические индикатрисы для кристаллов средних сингоний а – положительного; б - отрицательного

1-ые (вытянутые) эллипсоиды соответствуют оптически положительным, а 2-ые (сплющенные Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат) – оптически отрицательным кристаллам.

В эллипсоидах вращения радиальные сечения размещаются перпендикулярно оси вращения. Все другие их сечения эллипсами.

Кристаллы средних сингоний владеют только одним единичным направлением, совпадающим с единственной осью высшего наименования. В свою очередь, соответственная им оптическая индикатриса, имеющая форму эллипсоида вращения, также обладает только одним единичным направлением, совмещенным с Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат осью вращения эллипсоида.

Единичное направление кристалла должно совпасть с единичным направлением оптической индикатрисы.

В эллипсоиде вращения сечение, перпендикулярное оси вращения, представляет окружность. Тем радиальное сечение оптической индикатрисы размещается перпендикулярно оси симметрии высшего наименования.

В гексагональном кристалле, оптическая индикатриса нацелена в нем так, что ее ось вращения совмещена с шестерной осью симметрии Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат (рис. 4).

Рис. 4. Ориентировка оптической индикатрисы в гексагональном кристалле

Радиальные сечения эллипсоидов указывают на то, что перпендикулярно им световые волны идут, не раздваиваясь и не поляризуясь (хоть какой радиус тут представляет вероятное направление колебаний). Означает повдоль оси вращения оптической индикатрисы идет один неполяризованный (не раздвоенный луч).

Направление, по Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат которому свет не испытывает двупреломления, именуется оптической осью. Кристаллы средних сингоний имеют одну оптическую ось, т.е. являются оптически одноосными.

Для свойства оптической индикатрисы таких кристаллов довольно ограничиться 2-мя величинами, а конкретно: половиной величины оси вращения эллипсоида и радиусом его радиального сечения.

Отмеченные величины выражают больший и меньший характеристики Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат преломления кристалла – ng и np и численно равные им полуоси оптической индикатрисы Ng и Np.

В вытянутом (положительном) эллипсоиде вращения с осью вращения (основная ось симметрии кристалла) совпадает большая ось индикатрисы (Ng). Меньшая ось (Np) соответствует тут радиусу радиального сечения.

И напротив, в сплющенном (отрицательном) эллипсоиде вращения основная ось симметрии Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат кристалла (ось вращения) отвечает меньшей оси (Np), а большая ось индикатрисы (Ng) соответствует радиусу радиального сечения (рис. 3).

Низшая категория . Оптические индикатрисы кристаллов низших сингоний (ромбических, моноклинных и триклинных) характеризуются эллипсоидами с 3-мя неравными взаимно перпендикулярными осями.

Эти три оси по величине отвечают трем различным показателям преломления - ng >nm >np и Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат обозначаются Ng, Nm, Np (рис. 2). Любая ось является единичным направлением и соответствует двойной оси симметрии эллипсоида, а плоскость, перпендикулярная оси – плоскости его симметрии.

Трехосный эллипсоид обладает 2-мя радиальными сечениями, проходящими через Nm. Перпендикулярно каждому радиальному сечению проходит оптическая ось.

Означает кристаллы низших сингоний владеют 2-мя оптическими осями (ОА Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат1 и ОА2 ), т. е. являются оптически двуосными. Обе оптические оси лежат в плоскости плоскость оптических осей (Ng Np). Когда биссектриса острого угла меж оптическими осями совпадает с Ng, имеем оптически положительный кристалл, а при совпадении с Np, кристалл оптически отрицателен.

Разглядим ориентировку оптической индикатрисы в кристаллах низших сингоний. В Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат трехосном эллипсоиде три неравные оси его (Ng, Nm, Np) являются 3-мя единичными направлениями эллипсоида.

С этими 3-мя единичными направлениями кристалла и должны совместиться три единичных направления (три оси) оптической индикатрисы (рис. 5).

В ромбических кристаллах также всегда находятся три взаимно перпендикулярные единичные направления, совпадающие либо с 3-мя двойными осями симметрии либо Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат с нормалями к плоскостям симметрии.

Рис. 5. Ориентировка оптической

индикатрисы в ромбическом кристалле

Но по внешнему облику ромбического кристалла нельзя найти, какая конкретно ось индикатрисы (Ng, Nm, Np) совпадает с тем либо другим его единичным направлением.

Возьмем для примера кристалл в форме кирпичика либо спичечной коробки. Тут оказываются на виду три Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат серии различных по длине и взаимно перпендикулярных ребер. Все же не следует полагать, что параллельно более длинноватым ребрам должна непременно проходить большая ось индикатрисы Ng. Также нельзя связывать средние и малые ребра кристалла с осями Nm и Np.

Четкое решение вопроса об ориентировке оптической индикатрисы просит внедрения Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат уже кристаллооптических способов исследования.

В кристаллах моноклинной сингонии всегда имеем одно свойственное кристаллографическое направление, совпадающее с двойной осью (L2 ) либо нормалью к плоскости симметрии (^Р) и совмещенное со 2-ой кристаллографической осью. Это направление является единичным, и с ним всегда совпадает одна из 3-х осей (одно из 3-х направлений) оптической Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат индикатрисы (Ng либо Nm, либо Np).

Две другие оси эллипсоида лежат в плоскости, или перпендикулярной двойной оси (L2 ), или параллельной плоскости симметрии. При всем этом они образуют некие углы с ребрами кристалла.

Величины таких улов являются соответствующими для каждого определенного вещества, кристаллизующегося в моноклинной сингонии. Совместно с тем для различных Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат веществ они будут разными.

В кристаллах триклинной сингонии нет осей и плоскостей симметрии. Все направления единичны. Вследствие этого оптическая индикатриса может ориентироваться в каждом веществе, кристаллизующемся в триклинной сингонии, по-разному. Тут принципиальное значение имеют углы, образованные осями индикатрисы с ребрами кристалла.

Итак, при определении оптических параметров кристаллов низших Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат сингоний нужно сначала измерить три показателя преломления – ng , nm , np , являющиеся более соответствующими оптическими константами, и найти, с какими кристаллографическими направлениями совпадают надлежащие им оси индикатрисы.

Для моноклинных и триклинных кристаллов, как указывалось, свойственны еще углы меж осями индикатрисы и ребрами кристаллов.

Не считая перечисленных оптических констант, нужно Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат также определять оптический символ кристалла и определять острый угол меж обеими оптическими осями. Этот угол обозначается 2V.

Если почему-то характеристики преломления конкретно не измеряются, принципиальное значение приобретает так именуемая величина (сила) двупреломления (ng (больший показатель преломления) – np (меньший показатель преломления) ). Эта константа средством кристаллооптических способов может быть определена и Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат в тех случаях, когда величины характеристик преломления ng и np остаются неведомыми.

Следует подразумевать, что для лучей различного цвета (т. е. лучей, владеющих разными длинами волн) форма эллипсоида оптической индикатрисы в одном и том же кристалле может значительно изменяться. В связи с этим меняются и величины оптических констант Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат. Это явление носит заглавие дисперсии частей оптической индикатрисы.

В кристаллах моноклинной и триклинной сингоний явление дисперсии отличается в особенности сложным нравом. В моноклинных кристаллах, как упоминалось, одна из осей индикатрисы всегда совпадает с L2 либо с нормалью к Р, а две другие оси размещаются в перпендикулярной ей плоскости. В Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат связи с тем, что в этой плоскости все направления единичны, обе оси индикатрисы для лучей разных длин волн могут занимать различное положение. В кристаллах триклинной сингонии все направления единичны, все три оси индикатрисы для лучей различных длин волн могут быть по-разному нацелены в кристалле.

ГЛАВА 2. Устройство микроскопа и его Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат поверки

2.1.УСТРОЙСТВО МИКРОСКОПА

Исследование оптических параметров минералов выполняются с помощью поляризационного микроскопа. Более всераспространенными являются российские микроскопы моделей МП и МИН.

Основными частями поляризационного микроскопа являются штатив, предметный столик, тубус, осветительное устройство и поляризационная система. Вид микроскопа представлен на рис. 7.

Штатив имеет подковообразное основание и вертикальный кронштейн, с Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат которым с помощью шарнира и закрепляющего винта (11) соединена станина, либо тубусодержатель (12). Благодаря такому устройству тубусу можно придавать хоть какое наклонное положение при горизонтальном положении основания.

Предметный столик (6) микроскопа прикреплен к нижней части станины. Центральную часть столика с отверстием по середине можно вытащить выдавливанием ее снизу после опускания осветительного устройства Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат и поднятия тубуса. На предметном столике имеются отверстия с резьбой для привинчивания особых устройств (федоровский столик, ИСА, препаратоводитель) и отверстия без резьбы для прикрепления клемм, которые держат шлиф. Предметный столик имеет лимб, разбитый на 360°, и два нониуса, по которым можно брать отсчеты с точностью до 0,1°. Но в обыкновенной петрографической работе Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат достаточна точность отсчета до 1°. Предметный столик должен свободно крутиться. С левой стороны его размещен стопорный винт (13), позволяющий закрепить столик в подходящем положении.

Тубус микроскопа размещен в высшей части станины. С помощью особенного кремальерного устройства его можно приближать либо удалять относительно предметного столика. Приближение тубуса к столику микроскопа (опускание) осуществляется вращением Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат кремальерного винта «от себя», а удаление (поднятие) – вращением винта «к себе».

В нижней части тубуса находятся щипцы, которые держат объектив (5). Чтоб воткнуть объектив, нужно левой рукою надавить на щипцы, а правой рукою надеть объектив и повернуть его против часовой стрелки на 90°. Потом щипцы отпускают и инспектируют, захватили ли они наклонный Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат шпенек, имеющийся на обойме каждого объектива.

Объективы совместно с окуляром хранятся в специальной коробке. К микроскопам МП приложены объективы 3´, 8´, 20´, 40´ и 60´; у каждого из их есть центрирующие обоймы.

Выше щипцов в тубусе имеется сквозная прорезь, расположенная под углом 45° к плоскости симметрии микроскопа, в которую Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат в процессе работы вставляют компенсаторы.

Над прорезью в тубусе располагается анализатор (4), который вводится слева до упора. В высшей части тубуса, параллельно анализатору, размещена линза Бертрана (2), нужная только при получении коноскопии. Линза имеет диафрагму, может быть центрирована и фокусирована специальной кремальерой (1).

Сверху в тубус вставляется окуляр (15). К микроскопам МП прилагаются Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат окуляры 5´, 8´, 12,5´ и 17´, имеющие крест нитей, и окуляр 6´, в который можно вложить сетчатый либо линейный микрометр. Окуляр с крестом нитей вставляют так, чтоб одна из нитей была параллельна плоскости симметрии микроскопа, а другая перпендикулярна ей.

Осветительное устройство (9) поляризационного микроскопа размещено под предметным столиком и состоит Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат из зеркала и 2-ух конденсоров. Зеркало двойное – плоское и вогнутое. Обычно пользуются вогнутым зеркалом, а при малых повышениях и широком, удаленном от микроскопа источнике света – плоским.

Нижний конденсатор превращает пучок света, отраженного от зеркала, в несколько сходящийся и увеличивает освещенность продукта. Над ним помещена ирисовая диафрагма, при помощи Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат которой можно суживать отверстие конденсора и делать пучок света более параллельным. 2-ой конденсор – линза Лазо – употребляется при работе с большенными повышениями и приемущественно для получения коноскопии. По мере надобности линзу можно вводить особым рычагом, размещенным под столиком.

Осветительная система совместно с поляризатором особым маховичком может быть опущена вниз и откинута на Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат лево. Обычно же она должна быть поднята до самого предметного столика.

Поляризационная система микроскопа представлена 2-мя николями. Нижний николь – поляризатор (8) – помещен под предметным столиком, ниже осветительных конденсоров и диафрагмы. Верхний - анализатор (4) – находится в тубусе микроскопа меж объективом и окуляром.

Поляризатор можно повернуть в обойме и закрепить особым Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат винтом. Обычно поляризатор располагают таким макаром, чтоб направление пропускаемых им колебаний было параллельно вертикальной нити окуляра (плоскости симметрии микроскопа).

Анализатор, обычно, может быть или выведенным из тубуса, или введенным в него. Направление пропускаемых анализатором колебаний должно быть перпендикулярно направлению колебаний, пропускаемых поляризатором. В неких микроскопах (к примеру, МП-6) анализатор может Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат быть повернут на определенный угол до 90°, но делается это только при особых исследовательских работах.

2.2. Главные ПОВЕРКИ МИКРОСКОПА

До работы с поляризационным микроскопом нужно установить его в рабочее положение – сделать поверки. Рекомендуется проводить их в таковой последовательности.

1. Присваивают тубусу комфортное для работы наклонное положение и зажимают закрепляющий винт Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат. Проверив, выключены ли линзы Лазо и Бертрана, также анализатор и открыта ли диафрагма, налаживают правильное освещение. Для этого вращением и наклонами вогнутого зеркала направляют световой пучок от источника света в микроскоп и достигают умеренно броского освещения поля зрения.

2. Прикрепляют шлиф к предметному столику, вставляют объектив и создают фокусировку. При фокусировке объективов со Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат слабенькими повышениями (3´ либо 8´) тубус опускают винтом макроподачи до возникновения изображения, а потом уточняют фокусировку винтом микроподачи.

Фокусировку объективов с сильными повышениями (40´, 60´) во избежание угрозы раздавить шлиф объективом производят таким макаром: осторожно, следя с боковой стороны, винтом макроподачи опускают тубус до соприкосновения объектива Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат с покровным стеклом шлифа, а потом, подымая тубус (лучше микроподачей), улавливают изображение.

3. Инспектируют центрировку объектива. Для этого передвижением шлифа по предметному столику ставят на центр креста нитей какую-либо небольшую приметную точку и крутят столик. Если объектив центрирован, то избранная точка не сойдет с перекрестья нитей. При отсутствии центрировки точка сойдет Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат с перекрестья и обрисует в поле зрения окружность. Если центрировка объектива очень нарушена либо объектив некорректно зажат в щипцах, то избранная точка может совершенно уйти из поля зрения. Потому до того как начать центрировку, нужно убедиться, что объектив вставлен верно, т.е. что шпенек на его обойме Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат вошел в прорезь щипцов.

Центрируют объектив обычно последующим образом:

а) после выбора точки в шлифе и установки ее на перекрестье нитей поворачивают предметный столик на 180°;

б) перемещением шлифа по предметному столику подвигают избранную точку к кресту нитей на одну вторую того расстояния, на которое она отошла при вращении;

в) надевают на центрировочные Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат винты объектива особые ключи и, ввинчивая либо вывинчивая их, изменяют положение объектива так, чтоб избранная точка попала на перекрест нитей;

г) инспектируют проведенную центрировку вращением столика микроскопа. Если же объектив вновь оказывается не центрированным, то все обозначенные операции повторяют опять.

При сильном нарушении центрировки поначалу вращением столика устанавливают, в Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат каком направлении от центра размещен выход оси вращения. Потом центрировочными винтами перемещают видимые зерна так, чтоб приблизить ось вращения к центру нитей. Как избранная для центрировки точка окажется в границах поля зрения, центрировку создают обыденным методом.

При неком опыте работы с микроскопом центровку объектива можно производить только центрировочными винтами Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат. В данном случае выбирают небольшую точку, ставят ее на перекрестье, поворачивают столик на 180°. Потом избранную точку передвигают центрировочными винтами на одну вторую расстояния к перекрестью, замечают новейшую, оказавшуюся на кресте, точку и повторяют операции до того времени, пока избранная точка не будет обрисовывать окружность вокруг перекрестья нитей. Таковой Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат метод центрировки в особенности комфортен, когда не нужно избыточное передвигание шлифа.

4. Инспектируют обоюдную перпендикулярность нитей креста в окуляре. Выбирают в шлифе прямую линию (спайность, край удлиненного зерна), поворачивают предметный столик так, чтоб она расположилась параллельно одной из нитей окуляра, и берут отсчет по нониусу столика. Потом, вращая столик Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат, устанавливают эту же линию параллельно другой нити окуляра и вновь берут отсчет. Разность отсчетов должна быть равной 90°. Если нити окажутся не взаимно перпендикулярными, поправить это может только механик.

5. Инспектируют, находятся ли николи в скрещенном положении. Потому что поляризатор и анализатор должны пропускать свет с колебаниями во взаимно перпендикулярных плоскостях Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат, при внедрении анализатора поле зрения (без шлифа!) должно быть темным. Если же этого нет, то при введенном анализаторе необходимо повернуть поляризатор, за ранее ослабив стопорный винт, пока поле зрения не станет темным, и вновь зажать винт.

6. Инспектируют совпадение нитей окуляра с направлениями колебаний света, пропускаемых поляризатором и анализатором. Данную поверку Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат создают обычно с помощью удлиненной пластинки биотита со спайностью. Поворотом столика достигают, чтоб спайность (либо удлиненная сторона) пластинки биотита оказалась параллельной одной их нитей окуляра. При включенном анализаторе пластинка биотита должна быть черной, т. е. Стоять на погасании. Если же этого не наблюдается, то следует обращаться к механику.

7. Определяют Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат направление колебаний, пропускаемых поляризатором. Для этого можно пользоваться той же пластинкой биотита. Вращением предметного столика достигают более насыщенной расцветки биотита (без анализатора!). На этот момент удлинение (и спайность) пластинки окажется параллельным одной из нитей окулярного креста, которая и будет соответствовать направлению колебаний, пропускаемых поляризатором. Обычно поляризатор пропускает Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат колебания, параллельные плоскости симметрии микроскопа (вертикальной нити окуляра), но может наблюдаться и оборотное положение. Потому, начиная работу с незнакомым микроскопом, эту поверку делать совсем нужно.

Не считая перечисленных поверок, каждому исследователю надлежит усвоить, во-1-х, что прибор должен всегда стоять так, чтоб было комфортно работать, и, во-2-х, хотя Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат в микроскоп глядят одним глазом, 2-ой не должен быть закрыт и в особенности прищурен. Начинающим можно советовать закрывать глаз рукою либо одевать щиток из бумаги на высшую часть тубуса. Очень полезно привыкнуть в процессе работы глядеть в тубус то правым, то левым глазом.

ГЛАВА 3. ПЛОСКОПОЛЯРИЗОВАННЫЙ СВЕТ

3.1. ЕСТЕСТВЕННЫЙ И ПОЛЯРИЗОВАННЫЙ СВЕТ Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат

Различают свет естественный и поляризованный. Колебания естественного света совершаются во всех плоскостях, проходящих через направление распространения луча, во всех направлениях, перпендикулярных лучу. Колебания же поляризованного света совершаются в плоскости, перпендикулярной лучу, но по параллельным фронтам. Плоскость, перпендикулярная плоскости колебаний, именуется плоскостью поляризации. Поляризация света происходит при отражении, при прохождении света Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат через кристаллическое вещество. Она может быть полной либо частичной.

Свет сразу обладает и волновыми, и корпускулярными качествами. В базу кристаллооптических исследовательских работ положена волновая теория. Свет рассматривается как электрические колебания, распространяющиеся волнами во все стороны от источника света с большой скоростью.

В световом колебательном движении различают направление колебаний Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат и направление распространения колебаний. Прямые, по которым распространяется свет, именуются световыми лучами. Направление световых колебаний перпендикулярно направлению распространения света. Световые колебания являются гармоническими, т.е. совершаются через определенные промежутки времени.

В гармоническом колебательном движении выделяются последующие элементы (рис. 9):

Рис. 9. Элементы гармонического колебательного движения.

1. Амплитуда (А) – наибольшее расстояние, на которое колеблющаяся Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат точка отклоняется от собственного положения равновесия.

2. Период колебаний – просвет времени, в течение которого точка совершает одно полное колебание (аа¢).

3. Частота колебания – число полных колебаний за секунду.

4. Фаза – состояние колебания в данной точке на этот момент, т.е. угол, на который отклоняются частички от положения равновесия. Различают однообразные фазы и обратные Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат. Точки схожих фаз размещаются по одну сторону от положения равновесия и движутся в одну сторону (1 и 1¢). Точки обратных фаз размещаются по различным сторонам от положения равновесия и движутся в различные стороны (2 и 2¢).

5. Длина волны (l) – расстояние, на которое распространяется колебательное движение за один период. Другими словами Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат, длина волны есть расстояние меж наиблежайшими точками, находящимися в схожих фазах.

К области видимого света относятся электрические колебания с длинами волн от 380 мкм (фиолетовая часть диапазона) до 780 мкм (красноватая часть диапазона). Белоснежный свет фактически представляет собой смесь световых колебаний всех вероятных длин волн. Свет какой-нибудь одной длины волны именуется Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат монохроматическим. Рентгеновские лучи и радиоволны имеют также электрическую природу и отличаются от видимого света только длиной волны. У первых длина волны меньше 380 мкм, а у вторых – больше 780 мкм.

Если два луча распространяются в одном и том же направлении и владеют одной и той же длиной волны Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат, то они ведут взаимодействие либо интерферируют меж собой. Более обычной случай интерференции наблюдается, когда оба интерферирующих луча поляризованы в одной плоскости.

3.2. ПРЕЛОМЛЕНИЕ ЛУЧЕЙ

При переходе света из одной среды в другую происходит изменение скорости распространения света, либо, преломление световых лучей. Это происходит из-зи того, что скорость распространения света Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат в различных средах различна. В вакууме она примерно равна 300 000 км/с, во всех других средах меньше.

Существует определенная зависимость меж углом падения луча и конфигурацией скорости. Для данных 2-ух сред отношение синуса угла падения к синусу угла преломления есть величина неизменная, равная отношению скорости света в первой среде к Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат скорости света во 2-ой среде. Это отношение именуется показателем преломления среды 2-ой относительно первой и обозначается N.

Показатель преломления какой-нибудь среды относительно пустоты именуют абсолютным показателем преломления. Вследствие того, что скорость распространения света в пустоте является большей, абсолютный показатель преломления всегда больше единицы. Фактически показатель преломления определяется относительно воздуха Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат (его N = 1,0003).

При прохождении света из среды с наименьшим показателем преломления в среду с огромным показателем преломления угол преломления меньше угла падения. Если же свет идет из среды с огромным показателем преломления, то угол преломления больше угла падения. Потому из пучка лучей найдется луч, который после преломления пойдет по Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат границе сред. Угол падения такового луча именуется предельным.

При угле падения, большем предельного, падающий луч вполне отразится от поверхности раздела 2-ух сред (рис. 11). Это явление носит заглавие полного внутреннего отражения. Таким макаром, полное внутреннее отражение наблюдается тогда, когда луч из среды с огромным показателем преломления попадает в среду с Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат наименьшим показателем преломления под углом, превосходящим предельный. Чем значительнее разница в показателях преломления 2-ух сред, тем меньше предельный угол и тем большая часть падающих лучей испытает полное внутреннее отражение.

Луч естественного света, войдя в кристалл, преломляется и делится на два луча, идущих с разными скоростями и поляризованных в 2-ух Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат взаимно перпендикулярных плоскостях. Такое явление именуют двойным лучепреломлением, либо двупреломлением.

Рис. 11. Преломление света на границе 2-ух сред с разными показателями преломления.

N > n. j - предельный угол падения. Луч 4 испытывает полное внутреннее отражение.

Разглядим два варианта двупреломления лучей. Один из появившихся при двупреломлении лучей идет с схожей скоростью по Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат различным фронтам в кристалле, а другой меняет скорость зависимо от направления. 1-ый луч именуют обычным (ordinarius) и обозначают о , а 2-ой – необычным (extraordinarius) и обозначают е.

Явление двупреломления связано с анизотропностью кристаллов, т.е. с неодинаковыми качествами кристаллов. В субстанциях с схожей скоростью распространения света двупреломление не происходит. В Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат анизотропных субстанциях двупреломление происходит во всех направлениях (не считая направлений оптических осей).

ГЛАВА 4. УСТРОЙСТВО ПРИЗМЫ НИКОЛЯ И

ХОД ЛУЧЕЙ ЧЕРЕЗ НЕЁ.

Входя в кристалл, световой луч, разбивается на два луча, распространяющихся с различными скоростями и поляризованных в 2-ух взаимно перпендикулярных плоскостях.

При выходе из кристалла, световые колебания 1-го пучка Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат будут перпендикулярны по отношению к световым колебаниям второго. Для того чтоб, получить свет, поляризованный в одной плоскости, довольно погасить один из обозначенных световых пучков. Что производится в призме Николя.

Призма делается таким методом; кристалл прозрачного кальцита (исландского шпата – СаСО3 ) разрезается под определенным углом к ребрам на две части. Потом обе Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат части склеиваются особенным клеем - канадским бальзамом. Показатель преломления канадского бальзама n ≈ 1,54.

Параллельный пучок света, входя а призму, разбивается на два распространяющихся с разными скоростями поляризованных световых пучка. Для 1-го из этих пучков показатель преломления кальцита 1,53 – 1,54, для другого – 1,658. Обратим внимание но то, что 1-ый показатель практически равен показателю преломления канадского Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат бальзама. Световой пучок, соответственный ему, беспрепятственно проходит через прослойку бальзама с близким ему показателем преломления.

2-ой пучок, соответственный большему показателю преломления (1,658), дойдя до упомянутой прослойки, должен преломиться.

При изготовлении призмы Николя плоскость ее разреза ориентируется так, чтоб 2-ой пучок испытал полное внутренне отражение. Таким макаром, достигнув прослойки канадского бальзама, этот Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат пучок не проходит через нее, а полностью отражается, поглощаясь зачерненной оправой призмы Николя. В итоге из 2-ух световых пучков через николь проходит только один, отвечающий показателю преломления 1,53 – 1,54.

ГЛАВА 5. Исследование оптических параметров

кристаллов при одном Николе

5.1. Исследование ФОРМЫ КРИСТАЛЛОВ И СПАЙНОСТИ

Формы кристаллов находится в зависимости от кристаллографических Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат особенностей минерала, критерий кристаллизации, хим состава и др. В критериях свободного роста образуются кристаллы, которые владеют правильными, присущими только данному минералу формами. В шлифах минерал обычно встречается в виде некорректных, круглых зернышек и существенно пореже представлен обширно таблитчатыми либо несколько удлиненными кристаллами с бипирамидальными окончаниями. Для кристаллов слюды характерен пластинчатый вид Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат, а в шлифах они нередко имеют шестиугольную либо вытянутую – призматическую, шестоватую форму.

Зерна, имеющие для данного минерала соответствующие очертания, именуются идиоморфными .

Если кристаллы в процессе роста получают свою соответствующую форму только отчасти, они именуются гипидиоморфными .

В тех случаях, когда кристаллы минералов не имеют правильных кристаллографических очертаний и Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат образуют зерна неверной формы, они именуются ксеноморфными .

Степень идиоморфизма минералов

Рис. 12

Зерна: 1 – идиоморфные, 2 – гипидиоморфные, 3 - ксеноморфные

Более нередко минералы в шлифах наблюдаются в виде зернышек изометрической, таблитчатой, призматической формы, пореже встречаются минералы, которым присущи шестоватая и игловатая формы (рис.13).

Форма зернышек минералов

Рис. 13

1 – изометрическая, а/b=1; 2 – таблитчатая, а/b от 2 до 4;

3 – призматическая, а/b от 4 до Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат 10; 4 – шестоватая,

а/b от 10 до 20; 5 – игловатая, а/b

Спайность – это свойство кристаллов раскалываться (расщипляться) при ударе либо давлении по определенным фронтам (в большинстве случаев параллельно граням). В зернах минералов, владеющих спайностью, наблюдается система параллельных трещинок, отлично приметных под микроскопом. Под микроскопом различают минералы с совершенной и неидеальной Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат спайностью. Минераллы, владеющие совершенной спайностью, наблюдаются тонкие, точные трещинкы параллельные друг дружке (рис. 14, а).

У минералов с неидеальной спайностью полосы трещинок почаще широкие либо прерывающиеся, но могут быть тонкими и зигзагообразными, не всегда строго параллельными. Но единое направление трещинок видно довольно ясно (рис. 14, б, в). Минералы не владеющие спайностью Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат, не имеют трещинок, или они неровные, зигзагообразные и хаотичные (рис. 14, г).

Типы спайности

Рис. 14

Трещинкы спайности могут проходить в различных направлениях.

Так к примеру в одном направлении можно следить у слюды, в 2-ух минералы группы полевых шпатов, амфиболов, пироксенов и др., в 3-х кальцита, доломита, галита и неких других минералов Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат, в 4 у флюорита и 6 у сфалерит направлениях.

Для минералов, имеющих спайность в 2-ух и поболее направлениях, один из исследовательских признаков – величина угла меж трещинками - угол спайности . В особенности принципиально его определение для минералов группы амфиболов и пироксенов, схожих меж собой по ряду других оптических констант и резко различающихся по Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат величине угла спайности. У первых он составляет 56°, а у вторых - 87° (рис. 14, д, е).

5.2. Исследование ЦВЕТА И ПЛЕОХРОИЗМА МИНЕРАЛОВ

Минералы также различают по цвету зерна и выделяют две группы, непрозрачные – вполне всасывающие световые лучи и прозрачные – стопроцентно либо отчасти пропускающие свет. К первой относятся в главном рудные минералы. Ко 2-ой Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат относят породообразующие минералы.

В шлифах минералы могут иметь другой цвет. Окрашенными в шлифах смотрятся минералы, которые лучи различных длин волн поглощают их по-разному. Тусклыми кажутся минералы, всасывающие схожие лучи с различной длиной волны.

Большая часть окрашенные минералы, кристаллизующиеся во всех сингониях не считая кубической, владеют плеохроизмом. Плеохроизмом именуется свойство кристаллов изменять Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат расцветку зависимо от направления световых колебаний, проходящих через их. Оно обосновано разным нравом поглощения световых лучей по различным фронтам в кристалле и проявляется при исследовании окрашенных минералов под микроскопом при одном николе.

У минералов, владеющих плеохроизмом, наблюдается постепенное изменение расцветки.

У одних минералов плеохроизм выражается в изменении цвета, у Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат других – в изменении интенсивности расцветки, у третьих – в изменении и цвета, и интенсивности.

5.3. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ВЕЛИЧИНЫ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ МИНЕРАЛОВ.

Показатель преломления n – один из важных исследовательских признаков минералов. Определение его, зависимо от цели исследования, проводится различными способами с различной степенью точности. Для более четкого определения величины показателя преломления Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат пользуются кристалл-рефрактомером. Измерение показателя преломления этим прибором основано на явлении полного внутреннего отражения при падении световой волны из среды, более очень преломляющей, в среду, преломляющую наименее очень. Величина показателя преломления минерала рассчитывается по формуле:

n – N sin j,

где N – узнаваемый показатель преломления стеклянного полушария (от куда падает световая Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат волна); j - угол падения луча. Кристалл-рефрактометр позволяет определять характеристики преломления кристаллического и некристаллического вещества при условии, что их значения не превосходят величины N.

5.4. Методы ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ МИНЕРАЛОВ.

В научно-исследовательских и производственных лабораториях характеристики преломления минералов в большинстве случаев определяют иммерсионным способом. Сущность способа состоит в том, что Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат пользуясь особым набором жидкостей с различными, заблаговременно известными показателями преломления, подбирают две воды с различием величин n в 0,003. При этом, значение n одной воды будет больше n исследуемого минерала, а другой – меньше. Одно из существенных преимуществ этого способа – возможность его использования для определения даже маленьких зернышек Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат, размером в десятые толики мм.

Сравнивая характеристики преломления воды и минерала, наблюдают за так именуемой световой полосой, либо линией Бекке. При разнице n в 0,001 и поболее на границе минерала с жидкостью возникает узкая световая полоса – линия Бекке, точно повторяющая контуры зерна. При подъеме и опускании тубуса микроскопа она перемещается с зерна Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат на жидкость и назад. При подъеме тубуса микроскопа линия Бекке перемещается в сторону вещества с огромным показателем преломления, а при опускании – в сторону вещества с наименьшим показателем преломления.

Более обычной и доступный метод определения показателя преломления минералов при исследовании их при помощи поляризационного микроскопа – способ сопоставления с Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат показателем преломления канадского бальзама, величина которого всегда постоянна. При всем этом наблюдают за линией Бекке, рельефом и шагреневой поверхностью, по нраву которых и определяют показатель преломления минерала.

Все минералы при сопоставлении их показателя преломления с показателем преломления канадского бальзама можно поделить на две группы: 1) nмин < nк.б. ; 2) nмин > nк.б. . Следует подразумевать, что у Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат неких минералов величина показателя преломления зависимо от кристаллографической и оптической ориентировки очень изменяется, к примеру, у кальцита – от 1,486 до 1,658.

ГЛАВА 6. ИССЛЕДОВАНИЕ ОПТИЧЕСКИХ СВОЙЧТВ КРИСТАЛЛОВ ПРИ 2-ух НИКОЛЯХ.

6.1. ОПРЕДЕЛЕНИЕ СИЛЫ ДВОЙНОГО ЛУЧЕПРЕЛОМЛЕНИЯ МИНЕРАЛОВ.

Луч света, проходящий через пластинку анизотропного минерала, разбивается на два луча с различными показателями преломления Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат, распространяющиеся с разными скоростями, и колеблющиеся во взаимно-перпендикулярных плоскостях.

Силой двойного лучепреломления (D) именуется величина, показывающая как показатель преломления 1-го луча отличается от показателя преломления другого:

D = n1 – n2 , {1}

где n1 и n2 – величины характеристик преломления.

Сила двойного лучепреломления – величина переменная. Она меняется от 0, когда луч ориентирован по оптической Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат оси кристалла, до какого-то максимума, когда луч ориентирован перпендикулярно к оптической оси (в одноосных кристаллах) либо к плоскости оптических осей (в двуосных кристаллах). За натуральную величину силы двойного лучепреломления (ведь только она может употребляться для определения минералов) принимают ее наибольшее значение:

D = ng – np , {2}

где ng – больший по величине Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат показатель преломления данного минерала, а np – меньший.

Определение силы двойного лучепреломления минералов основано исследовании явления интерференции световых волн, проходящих через кристалл в шлифе.

Выше было сказано, что луч света, входя в кристалл, раздваивается, и любая из образовавшихся световых волн распространяется в кристалле со собственной скоростью. В итоге Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат один луч опереждает другой, и меж ними появляется разность хода (R). Величина разности хода измеряется в миллимикронах и прямо пропорциональна длине пути, пройденного в анизотропной среде, другими словами толщине кристаллической пластинки – (толщина шлифа) и силе двойного лучепреломления данного кристалла - D:

R = d D = d (ng – np ) {3}

Наличие определенной разности ходе Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат при прохождении лучей света через анализатор обусловливает их интерференцию, вследствие чего зерна минералов при исследовании их под микроскопом в белоснежном света получают интерференционные расцветки. При всем этом каждому значению разности хода соответствует своя интерференционная расцветка. Как следует, по нраву интерференционной расцветки можно найти разность хода – R, которая, в свою Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат очередь, связана с разыскиваемой уже известной зависимостью. В итоге, определение силы двойного лучепреломления минерала сводится к определению интерференционной расцветки.

При определении силы двойного лучепреломления минералов пользуются таблицей Мишель-Леви (приложение 1).

По горизонтальной оси этой нанесены величины разности хода (в миллимикронах) с соответственной им интерференционной расцветкой (в виде вертикальных полосок соответственных цветов Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат). При увеличении R цвета временами повторяются. Это позволяет разбить их на порядки.

В 1-ый порядок входят цвета: сероватый, белоснежный, желтоватый, оранжевый и красноватый, равномерно переходящие друг в друга.

2-ой и 3-ий порядки начинаются с фиолетового цвета, дальше следуют голубий, зеленоватый, желтоватый, оранжевый и красноватый.

В первом порядке имеются Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат отсутствующие в других порядках сероватый и белоснежный цвета, но нет голубого и зеленоватого.

По вертикальной оси таблицы отложена толщина шлифов (в сотых и тысячных толиках мм). Из нижнего левого угла таблицы веерообразно ввысь и на право расползаются прямые полосы, на концах которых указаны значения силы двойного лучепреломления.

Для практического Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат определения силы двойного лучепреломления нужно под микроскопом отыскать наивысшую интерференционную расцветку минерала и точку скрещения ее на таблице Мишель-Леви с горизонтальной линией, соответственной стандартной толщине шлифа =0,03 мм. Через эту точку проходит одна из веерообразно расходящихся линий, на верхнем конце которой и указана разыскиваемая величина = ng – np .

При исследовании интерференционной Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат расцветки минерала нужно найти ее порядок. Для этого пользуются так именуемым правилом каемок и способом компенсации.

6.2. ОПРЕДЕЛЕНИЕ СИЛЫ ДВОЙНОГО ЛУЧЕПРЕЛОМЛЕНИЯ ПО

Каймам В ЗЕРНАХ

Очень нередко зерна минералов утончаются к краям, в то время как существенно большая площадь зерна имеет плоскую поверхность, параллельную нижней поверхности зерна.

Зависимо от Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат этого интерференционная расцветка зерна снижается к самым краям зерна, на которых наблюдаются различия в интерференционных расцветках, так что часто можно различать цвета первых порядков. Следя от края к центру зерна полосы интерференционных цветов, заканчивающиеся красноватым цветом можно подсчитать сколько бардовых полосок сменяют друг дружку в направлении от края Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат к центру, и, как следует, узнать, к какому порядку относится интерференционная расцветка зерна в его центральной части (количество центральных каемок плюс единица). Потом нужно использовать номограмму Мишель-Леви для определения силы двойного лучепреломления.

6.3 ОПРЕДЕЛЕНИЕ СИЛЫ ДВОЙНОГО ЛУЧЕПРЕЛОМЛЕНИЯ С помощью КОМПЕНСАТОРА

Компенсатор представляет собой прибор, сделанный из кристаллов кварца и Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат гипса. В этом случае, когда он имеет постоянную разность хода около 550 миллимикрон, (что соответствует своей интерференционной расцветке кварца либо гипса – красноватой первого порядка), то его именуют кварцевой пластинкой.

Компенсатор, именуемый кварцевым клином, представляет в поперечном разрезе пластинку в форме узкого клина. Его разность хода переменная. На оправе указана его оптическая ориентировка Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат, обычно схожая с той, которая указана для гипсовой и кварцевой пластинок.

При вдвигании кварцевого клина в прорезь тубуса микроскопа меняются поочередно интерференционные цвета от начала 1 порядка до 4 порядка.

При определении силы двойного лучепреломления употребляется правило компенсации.

Понятно, что разность хода в кристаллическом зерне увеличивается пропорционально длине пути Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат, проходимого световыми волнами в этом зерне. Потому если на пути распространения света, над кристаллическим зерном поместить другую кристаллическую пластинку (в этом случае компенсатор) таким макаром, чтоб направления одноименных осей оптических индикатрис зерна и компенсатора совпадали, то результирующая разность хода будет равна сумме разностей хода зерна и компенсатора, что вызовет увеличение интерференционной Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат расцветки.

Если поместить компенсатор таким макаром, что будут совпадать разноименные оси оптических индикатрис зерна и компенсатора, то суммарная разность хода будет равна разности разностей хода зерна и компенсатора, что приведет к уменьшению порядка интерференционной расцветки.

Если разность хода компенсатора будет равна разности хода в исследуемом зерне минерала Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат, то в конечном итоге общая разность хода световых волн будет равна нулю либо, как принято гласить, произойдет компенсация разности хода в зерне, а зерно приобретет сероватую интерференционную расцветку первого порядка.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Приведенные малочисленные данные подтверждают неразрывную связь меж химией, геометрией и физикой кристаллов.

Несложно представить для себя связь Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат, существующую меж симметрией и хим составом кристаллов.

Пусть, к примеру, в структуре находятся только взаимно параллельные тройные оси. Частички могут размещаться или на этих осях, или вне их. При повороте вокруг тройной оси лежащая на ней частичка А остается единственной, тогда как частичка В, находящаяся вне оси, повторяется три раза.

Отсюда Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат заключаем, что в структурах с одними тройными осями могут кристаллизоваться соединения типа АВ3 . Вкупе с тем, тут нельзя ждать соединений типа АВ2 .

Как следует, познание федоровской пространственной группы (т.е. полной совокупы частей симметрии структуры кристалла) дает возможность предвещать типы соединений, кристаллизующихся в данной группе. Напротив, некому Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат типу хим формулы соответствует определенный комплекс пространственных групп. Отсюда понятно исключительное значение, которое играют в кристаллохимии пространственные группы симметрии, в первый раз выведенные Федоровым.

Связь меж симметрией пространственной группы и хим составом кристалла была в свое время верно сформулирована наикрупнейшим русским кристаллографом, академиком А. В. Шубниковым.

ИСПОЛЬЗОВАННАЯ ЛИТЕРАТУРА

1. Попов Г. М., Шафроновский Микроскопическое изучение оптических свойств кристаллов - реферат И. И. Кристаллография.

М.: ГОСГЕОЛТЕХИЗДАТ, 1955г, 295с.

2. Кочурова Р. Н. Базы практической петрографии.

Л.: Издательство Ленинградского института, 1977г, 176с.

Стр: 3
[Д1]

[Д2] Показатель преломления – величина оборотная скорости волны, распространяющейся повдоль световой нормали.



mikroprocessornaya-sistema-zazhiganiya.html
mikroprocessornie-vichislitelnie-ustrojstva-v-sistemah-upravleniya-pr.html
mikrorajoni-ukraini-doklad.html